Системы моделирования процессов отжига и контроля качества сталей : Система наблюдения образцов при нагреве до высокой температуры серии TMS (высокотемпературный микроскоп)

Четкое изображение образца в микроскопе при его нагреве с использованием усовершенствованной оптической системы

В данной системе реализован процесс наблюдения образцов при нагреве до высокой температуры с помощью усовершенствованная система получения изображений путем комбинации инфракрасной зеркальной печи и оптического микроскопа

Области применения
• Кристаллическая трансформация, осаждение, переход металлических материалов в твердую фазу
• Наблюдение за изменением структуры поверхности склеивания, рост кристаллическиъ отложений на различных материалах
• Измерение теплового цикла от, плавления до повторного перехода в твердую фазу для высокомолекулярных полимерных материалов

Конструктивные особенности
• Возможно замещение вакуума газовой средой
• Может устанавливаться в чистой комнате
• В сочетании с контроллером напуска газа (опция) могут быть реализованы высокоскоростной отжиг и охлаждение
• Можно наблюдать подложку диаметром 2 дюйма (50 мм) (модель P44)
• Можно наблюдать образцы при высокой температуре 1600 ° C (модель E1S)
• Можно наблюдать образцы в проходящем поляризованном свете (модель P1R)
• Может использоваться в комбинации с лазерным микроскопом

 Технические характеристики