Системы измерения свойств в зависимости от температуры : Система измерения коэффициента Зеебека/ Электрического сопротивления термоэлектриков серии ZEM-5
Новая серия установок для исследования свойств различных термоэлектрических материалов.
Модели ZEM-5 представляют собой системы, обладающие особыми техническими характеристиками, такими, как измерения при высоких температурах, с высокой стабильностью, измерения тонких пленок и т. д., для различные видов материалов.
Система соответствует стандарту JIS для измерения систем измерения коэффициента Зеебека в термоэлектрических материалах. (Измерение термоэлектрическая мощности по стандарту JIS R 1650-1 / Электрическое сопротивления по стандарту JIS R 1650-2)
Области применения
Исследование термоэлектрических характеристик широкого спектра материалов, таких как полупроводники, керамика и металлы
Конструктивные особенности
• Функция автоматической проверки омического контакта (график V-I) в качестве стандартной функции
• Наиболее подходящая оценка свойства материалов на основе кремния Si (SiGe, MgSi и т. Д.) с термопарой типа С в качестве датчика температуры (тип HT)
• Измерение до макс. 1200 °C (тип HT)
• Возможность измерения образцов с высоким сопротивлением макс. до 10 МОм (тип HR)
• Возможность измерения тонкопленочных материалов, нанесенных на диэлектрическую подложку (тип TF)
• Возможность проведения измерений в низкотемпературном диапазоне (-150 200 °C) (тип LT)
Технические характеристики
|
Модель |
ZEM-5HT |
ZEM-5HR |
ZEM-5LT |
ZEM-5TF |
|
Диапазон температур |
100 ¸ 1200 ° C |
50 ¸ 800 ° C |
-150 ¸ 200 ° C |
50 ¸ 500 ° C |
|
Размер образца |
Квадрат 2 ¸4 мм или 4 мм × 3¸15 (мм) |
Подложка, на которую осаждается пленка материала (мм) Ширина 2¸4 × Толщина 0,4¸1,2 × Длина 20 Толщина тонкой пленки Порядка нанометров или больше * Требуется изолирующий слой между пленкой образца и подложкой |
||
|
Среда, в которой проводятся измерения |
Газообразный гелий низкого давления |
|||
