+7 (495) 748-20-07
RU EN

Системы измерения свойств в зависимости от температуры : Система измерения коэффициента Зеебека/ Электрического сопротивления термоэлектриков серии ZEM-5


Старая цена

Новая серия установок для исследования свойств различных термоэлектрических материалов.
Модели ZEM-5 представляют собой системы, обладающие особыми техническими характеристиками, такими, как измерения при высоких температурах, с высокой стабильностью, измерения тонких пленок и т. д., для различные видов материалов.
Система соответствует стандарту JIS для измерения систем измерения коэффициента Зеебека в термоэлектрических материалах. (Измерение термоэлектрическая мощности по стандарту JIS R 1650-1 / Электрическое сопротивления по стандарту JIS R 1650-2)

Области применения
Исследование термоэлектрических характеристик широкого спектра материалов, таких как полупроводники, керамика и металлы

Конструктивные особенности
• Функция автоматической проверки омического контакта (график V-I) в качестве стандартной функции
• Наиболее подходящая оценка свойства материалов на основе кремния Si (SiGe, MgSi и т. Д.) с термопарой типа С в качестве датчика температуры (тип HT)
• Измерение до макс. 1200 °C (тип HT)
• Возможность измерения образцов с высоким сопротивлением макс. до 10 МОм (тип HR)
• Возможность измерения тонкопленочных материалов, нанесенных на диэлектрическую подложку (тип TF)
• Возможность проведения измерений в низкотемпературном диапазоне (-150  200 °C) (тип LT)

Технические характеристики

Модель

ZEM-5HT

ZEM-5HR

ZEM-5LT

ZEM-5TF

Диапазон температур

100 ¸ 1200 ° C

50 ¸ 800 ° C

-150 ¸ 200 ° C

50 ¸ 500 ° C

Размер образца

Квадрат 2 ¸4 мм или 4 мм × 3¸15 (мм)

Подложка, на которую осаждается пленка материала (мм)

Ширина 2¸4 × Толщина 0,4¸1,2 × Длина 20

Толщина тонкой пленки

Порядка нанометров или больше

* Требуется изолирующий слой между пленкой образца и подложкой

Среда, в которой проводятся измерения

Газообразный гелий низкого давления